Si-PIN 探测器 　　

Si-PIN是高性能的探测器，特别为X射线荧光仪器设计。干净的背景加上高峰背比使检测下限更低，并能通过不标准的校准方法得到精确结果。PIN结构使电荷收集效率提高，产生对称的高斯谱峰，没有低能量拖尾。使用牛津仪器的Si-PIN就不用延长时间来加以辨别。　　

电子学应用　　

• 高性能前置放大器　　
• 高性能整形放大器。根据应用选择脉冲处理参数。　　
• 探头和前置放大器的定制包　　

主要特征　　

• 高分辨率Si-PIN探头　　
• 珀耳帖冷却晶体和FET　　
• 晶体管低噪音重置　　
• 高质量密封包装　　
• 胶囊状大小便于密封测量　　
• 有3个不同晶体大小　　
• 高峰背比　　
• 清晰的背景　　
• 对称的高斯峰　　

其他应用范围　　

• OEM仪器　　
• X射线荧光分析仪器　　
• 便携式或台式仪　　
• 室内或室外实验或加工