产品简述： Elcometer7061表面粗糙度测试仪
Elcometer7061表面粗糙度测试仪
产品描述

在保护型涂层应用中，对于表面粗糙度的测量有具体要求。

表面粗糙度仪的测量结果可以用Ra,Rz或Tp表示，这些结果包括被测表面峰顶到谷底的距离，峰顶频率评估。

Elcometer7061重量轻，便于携带，用于测量表面粗糙度，符合国际标准。

该仪器适用于不同工业领域中测量表面粗糙度，特别是当样品过大不宜在实验室中测量的情况。

多语言显示：屏幕上显示所有信息，有14种语言可选
灵活性: 可在任何角度测量，水平、垂直、倒置，随货提供适合各种样品符合标准的高度调节装置。
整体式校准标准：无需外部校准标准，使用更加方便。
驱动装置：装置可旋转也可纵向移 动，带动针尖传感器到校准位置，同时针尖传感器处于校准位置，在运输过程 可得到保护。
带有移动保护功能的针尖传感器：2μm金刚石针尖，测量力度0.75mN,根据不同需要配置不同针尖。
如何使用表面粗糙度测试仪

含触针的表面粗糙测试仪，触针在表面上机械移动，记录预定义样品长度内表面粗糙度"图像"。
测量技术提供了大量的测量参数，包括：

Rmax: 取样长度内，最高峰顶与最低谷底之间的最大距离
Ra: 取样长度内的平均粗糙度
Rt: 给定取样长度内，最高峰顶与最低谷底之间的距离。
Rz: 多种取样长度内，最高峰顶与最低谷底之间的平均距离

零件号 产品描述
K7061M001 Elcometer 7061 MarSurf PS1 粗糙度测试仪
测量单位 公制、英制
测量方法 针尖测量方法
可提供针尖传感器
(也可提供其他针尖传感器) 感应偏移针尖传感器, 2μm (80μin) 针尖尖端, 测量力度： 0.7 mN
参数 24 (带公差极限): Ra, Rq, Rz equiv. to Ry (JIS), Rz (JIS), Rmax, Rp, Rp (ASME), Rpm
(ASME), Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr equiv. to Tp (JIS, ASME),
RSm, R, Ar, Rx
测量范围 350μm, 180μm, 90μm (自动更改)
表面粗糙度分辨率 32nm, 16nm, 8nm (自动更改)
滤波器† 相位配置准确的轮廓滤波器 (高斯滤波) 根据DIN EN ISO 11562标准, 特殊滤波器
根据 DIN EN ISO 13565-1标准, IS 滤波器 根据 DIN EN ISO 3274标准
Lc标准截止波长† 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm; automatic (0.010”, 0.030”, 0.100”)
导线长度Lt † 1.75mm, 5.6mm, 17.5mm; automatic (0.069”, 0.22”, 0.69”)
导线长度 (根据 MOTIF标准) 1mm, 2mm, 4mm, 8mm, 12mm, 16mm (0.040”, 0.080”, 0.160”, 0.320”, 0.480”, 0.640”)
短波截止波长† Selectable
评估长度† 1.25mm, 4.0mm, 12.50mm (0.050”, 0.15”, 0.50”)
样品长度选择† 1 to 5 可选
校准功能 动态校准
记忆功能 最大轮廓 15 , 最多20000个结果
其他功能 设置 (加密), 日期/时间
电池 Li-ion 电池
接口 USB, MarConnect (RS232)
规格 140mm × 50mm × 70mm (5.51” × 1.97” × 2.76”)
重量 400g (0.88lbs)
电源 100V to 264V
包装清单 Elcometer 7061 MarSurf PS1底座， 驱动装置，1 x 标准针尖传感器, 内置电池,
外壳标有粗糙度标准, 高度调节附件, 针尖传感器保护器， 通用充电器/ 适配器,
USB, 提箱带肩带 和腰带, 校准证书和操作手册。
† According to ISO/JIS